11 月 1 日发布用于在线 SWIR 检查的新 InGaAs 线阵扫描相机

滨松光子学株式会社系统事业部促销部

SWIR（短波长红外）成像是非破坏性检查的理想解决方案。它可以看到表面之下的东西，根据其 SWIR 光谱特征区分材料，并提供安全便捷的方式来确保产品质量。示例用途包括检查包装中的液体容量、检查密封容器的内容物，以及检测农产品中的损坏和污染物。此外，半导体行业中的用途包括硅晶圆图案检查和太阳能电池缺陷检测。

将 SWIR 成像集成到生产线中需要高行速率、高灵敏度相机，例如滨松的新型 C15333-10E InGaAs 线阵扫描相机。

C15333-10E InGaAs 线阵扫描相机已于 11 月 1 日发布，加入滨松久负盛名的 SWIR 和 NIR（近红外）成像技术产品阵容，其中包括用于高质量检查的 InGaAs 面阵相机。这款新相机是使用 SWIR 成像进行实时、在线非破坏性检查的理想选择，具有以下特点：

高 SWIR 灵敏度
高行速率
1024 像素线性阵列
GigE Vision

参见产品信息页面。

InGaAs 线阵扫描相机 C15333-10E

特点

高 SWIR 灵敏度

该相机的波长范围为 950 nm 至 1700 nm，在宽范围内具有高于 60% 的 QE。

光谱灵敏度特性图形

大视野 (FOV)

该相机的 1024 像素线性阵列可捕获大视野，而我们的 InGaAs 面阵相机 C12741-03 具有 640 × 512 像素的分辨率。

高行速率

可以实现最大 40 kHz/行的成像，因此，这款相机适用于高速在线检查。

具有像素校正功能的高质量成像

滨松的电路设计可实现低读取噪声和高性能。像素校正功能可校正热像素、传感器变化和强度变化。

图像校正比较

采用千兆以太网接口

该相机采用千兆以太网接口，广泛应用于工业领域，支持 GigE Vision。

GigE 徽标

紧凑轻便

其紧凑轻便的设计使相机易于集成到检查系统中。

尺寸：49 mm（宽） × 49 mm（高） × 100 mm（深）（不包括凸起）。
重量：约 250 g

InGaAs 线阵扫描相机 C15333-10E 轮廓尺寸

价格低于面阵相机

该线阵扫描相机的价格约为 InGaAs 面阵相机的 1/3。

成像示例

检测咖啡豆中混入的石头

由于与咖啡豆的大小和色调相似，在可见光图像中难以检测到的石头可以在 SWIR 图像中轻松检测到。

混杂咖啡豆对比图像

密封容器的液位检查

通过 SWIR 成像可以看到密封果汁或酸奶容器中的液位。

冰沙液位检查

检测水稻中混入的污染物（石头和塑料）

由于与米粒的大小和色调相似，在可见光图像中难以检测到的污染物可以在 SWIR 图像中轻松检测到。

水稻混杂对比图像

检查苹果是否损坏

可以检测到难以从视觉上区分的苹果上的损坏情况。

苹果对比图像

容器检查

可以检查密封塑料容器的内容物，例如方便食品。

杯面对比图像

半导体晶圆图案检查

可以观察到硅晶圆的内部图案。

硅晶圆对比图像