闪烁体 | 高分辨率 X 射线成像系统

高耐久性单晶荧光屏革新了传统成像

其中一种可选择的直接接合型荧光屏是具有极高 X 射线耐受性的单晶荧光屏。 

它抑制了 X 射线对荧光屏的破坏,并实现了长时间的稳定成像和测量。 

同步辐射白色 X 射线

即使同步辐射白色 X 射线长时间入射,也不会发生破坏。 

测量条件

光束线 SPring-8 BL28B2
X 射线能量 白色
衰减器 空气 (9 m),铝 (0.034 mm),窗口(光束线侧 1 mm 厚 + 探测器侧 0.5 mm 厚)
光束尺寸 3×3 mm2
探测器

粘合剂接合型:AA40 (f = 50 mm) + ORCA®-Flash2.8 (f = 35 mm) 

直接接合类型:AA40 (f = 50 mm) + ORCA®-Flash4.0 (f = 50 mm) 

像素分辨率 粘合剂接合型:5.1 μm/像素,直接接合型:6.5 μm/像素
闪烁体 LuAG(厚度:粘合剂接合型约为 20 μm,直接接合型约为 20 μm)*
* AA40 用于耐久性评估。不建议将单晶荧光屏与 AA40 配合使用。

数据提供方
JASRI(日本同步加速器辐射研究所)

工业应用部 

Kentaro KAJIWARA 博士

 

测量条件和数据在评估时提供,可能并不适用于所有案例。请作为参考案例。

通量密度 4.7 ×1013 光子/秒/平方毫米

即使接受大约 20 次具有高通量密度的 X 射线长时间入射,也不会发生破坏。 

测量条件

光束线 SPring-8 BL47XU
X 射线能量 8 KeV
衰减器
通量密度 4.7 ×1013 光子/秒/平方毫米
光束尺寸 350×350 μm2
探测器 AA50(物镜 10×/NA0.3)+ C13949-50U
像素分辨率 0.21 μm/像素
闪烁体

LuAG

(厚度:粘合剂接合型为 22.3 μm,直接接合型为 21.4 μm)

 

数据提供方

JASRI(日本同步加速器辐射研究所)

Kentaro UESUGI 博士

 

测量条件和数据在评估时提供,可能并不适用于所有案例。请作为参考案例。

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