特点 | 微型 LED PL 检查系统

可实现光致发光测量的三种功能

  • 检测自动光学检查 (AOI) 无法检测的发光和波长异常
  • 实现 100% 检查,这是电致发光 (EL) 检查无法实现的
  • 能够在制造流程的前端进行检查,从而提高产率。

什么是可实现高速、非接触式、非破坏性 100% 检查的 PL 测量?

PL 测量是一种非接触、非破坏性方法,通过光激发对 LED 发出的光进行成像来评估 LED 特性。

 

MiNY PL 是一种独特的二维成像技术,无需使用光谱仪测量光谱即可一次性计算晶圆平面中的发光波长。与使用光谱仪的点测量相比,可以高速获得面内发光波长。

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