PL 测量方法的有效性 | 微型 LED PL 检查系统

PL 测量方法的验证

与 EL 测量方法的相关性

常规 EL 测量方法是电气方法,被确立为 LED 的常用检查方法。相反,PL 测量方法则检测 LED 被光子光激发时的发光缺陷。这种新方法对于每个晶圆具有大量 LED 芯片的微型 LED 非常有效和有利。滨松光子学就特定的微型 LED 检查,对这两种 EL 和 PL 方法进行了详细的基准测试。结果确认我们可以通过上述两种方法获得相同的结果。

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