通过微弱的光发射和热发射来定位半导体器件上失效缺陷位置的显微镜成像系统。
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产品型号:C11222-16 | 产品名称:PHEMOS-1000 微光显微镜 | |
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产品型号:C15765-01 | 产品名称:PHEMOS-X发射显微镜 | |
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产品型号:C10506-07 | 产品名称:iPHEMOS-MPX倒置微光显微镜 | |
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产品型号:C10506-05-16 | 产品名称:iPHEMOS-DD倒置光发射显微镜 |