简体中文English日语版

首页>产品信息>半导体制程支撑类产品>失效分析系统
失效分析系统

用于定位低光发射和热信号发射半导体故障的成像系统。

加入对比 共 3 件产品
产品图像 产品型号 产品名称
产品图像： 产品型号：C14229-01 产品名称：热F1发射显微镜
产品图像： 产品型号：C10506-04-16 产品名称：iPHEMOS-MP倒置微光显微镜
产品图像： 产品型号：C11222-16 产品名称：PHEMOS-1000 微光显微镜
请联系我们获取更多信息
  • 资料索取
  • 价格咨询
  • 产品货期
  • 产品定制
  • 演示申请
  • 样品申请
  • 技术支持
  • 其他
 联系我们 
产品的注意事项和要求 通过电话查询

产品信息|应用领域|技术支持|新闻活动|滨松中国

Copyright © Hamamatsu Photonics (China) Co.,Ltd. All Rights Reserved.