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失效分析系统

通过微弱的光发射和热发射来定位半导体器件上失效缺陷位置的显微镜成像系统。

加入对比 共 4 件产品
产品图像 产品型号 产品名称
产品图像： 产品型号：C10506-06-16 产品名称：iPHEMOS-MP倒置发射显微镜
产品图像： 产品型号：C10506-05-16 产品名称：iPHEMOS-DD倒置发射显微镜
产品图像： 产品型号：C14229-01 产品名称：Thermal F1 热发射显微镜
产品图像： 产品型号：C11222-16 产品名称：PHEMOS-1000 微光显微镜
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