关于 IQE | ODPL 测量系统

“IQE”是质量评估的一个参数

当半导体晶体被从外部发射的光激发(光致发光)时,它们具有发射光的特性。IQE 是一个表示这种发光效率的参数,其值因脱位、缺陷和掺杂剂而变化,灵敏度很高。因此,预计 IQE 将用作半导体材料质量的指标。

ODPL measurement system Principle 2

GaN 晶格

ODPL measurement system Principle 1

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