Optical MicroGauge 膜厚测量系统

C11011-22

Optical MicroGauge 膜厚测量系统 C11011 是一种利用激光干涉法的薄膜膜厚测量系统。可在 60 Hz 时进行高速测量,因此也可用于工厂内的线阵测量。与可选的映射系统结合使用,以便进行原型厚度分布测量。它可用于从监控制造过程到质量控制的各种用途。

C11011-22 可测量 25 μm 至 2.2 mm 以及 10 μm 至 0.9 mm 的玻璃。(可测量层数:最多 10 层)

特点

  • 通过红外光度法测量非透明(白色)样品
  • 测量薄膜厚度范围(玻璃):25 μm~2.2 mm
  • 60 Hz 高速测量
  • 可测量层数:10 层
  • 测量带有图案或保护膜的晶圆
  • 长工作距离
  • 映射功能
  • 提供外部控制

详细参数

型号 C11011-22
可测量的薄膜厚度范围(玻璃) 25 μm 至 2.2 mm*1
可测量的薄膜厚度范围(硅) 10 μm 至 0.9 mm*2
测量重现性(硅) 100 nm*3
测量精度(硅) < 500 μm: ±0.5 μm, > 500 μm:±0.1%*3
光源 红外 LD (1300 nm)
光斑尺寸 约 Φ60 μm*4
工作距离 155 mm*4
可测量层数 最多 10 层
分析 峰值检测
测量时间 16.7 ms/point*5
外部控制功能 RS-232C,以太网
接口 USB 2.0(主机 - 计算机)
电源 AC100 V 至 AC240 V,50 Hz/60 Hz
功耗 约 50 VA

*1:玻璃折射率当量。
*2:硅折射率当量。
*3:测量硅时的标准偏差
*4:提供工作距离为 1000 mm 的可选型号。 
*5:最短曝光时间。

尺寸

请联系我们获取更多信息。

  • 资料索取
  • 价格咨询
  • 产品货期
  • 产品定制
  • 演示
  • 技术支持
  • 其他

联系我们