Optical NanoGauge 膜厚测量系统

C15151-01

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C15151-01 是一种利用光谱干涉法的非接触式膜厚测量系统。这种大功率、高度稳定的白光源支持精确测量薄膜厚度,即使是超薄薄膜也是如此。此外,光源的使用寿命为 10,000 小时,适用于在线操作。

特点

・用于超薄薄膜测量(玻璃:1 nm 起,硅:0.43 nm 起)

・高精度(测量可再现性:≤ 0.1 nm)*测量 2 nm 厚度的二氧化硅 (SiO2) 时

・使用大功率白光源

・使用寿命长(维护周期:1 年以上)

・支持 PLC 连接

・缩短周期时间(高达 200 Hz)

・涵盖宽波长范围(200 nm 至 790 nm)

・软件中添加了简化的测量

・能够同时进行表面分析

・在距离存在波动的条件下提高测量稳定性

・分析光学常数(n、k)

详细参数

产品编号 C15151-01
测量薄膜厚度范围 玻璃*1:1 nm 至 20 μm
*2:0.43 nm*3 至 8.6 μm
测量可再现性 玻璃 *4*5:0.1 nm
*6:1 nm
测量精度*5 *7 ±0.4 %
光源 大功率白光源
测量波长范围 200 nm 至 790 nm
光斑尺寸*5 约 Φ1 mm
工作距离 *5 10 mm 起
可测量层数 最多 10 层
分析 FFT 分析、拟合分析、光学常数分析
最短的节拍时间 < 2 ms/point
外部通信接口 以太网
输出信号 模拟输出:0 V 至 10 V/高阻抗 3 通道(最多 3 层)
警报输出:TTL/高阻抗单通道
警告输出:TTL/高阻抗单通道
输入信号 测量开始信号:TTL/高阻抗单通道
电源电压 AC100 V 至 AC240 V,50 Hz/60 Hz
功耗 约 130 VA
光导连接器形状 FC

*1 当以玻璃折射率 1.5 进行转换时。
*2 当以玻璃折射率 3.67 进行转换时。
*3 这是转换为硅折射率的计算值 (3.67)。

*4 测量 2 nm 厚玻璃薄膜时的标准偏差(公差)。

*5 取决于使用的光学系统或物镜放大率。

*6 测量 30 μm 厚标准具时的标准偏差(容差)。

*7 VLSI 标准测量保证文件中记录的测量保证范围。

尺寸

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