Optical NanoGauge 膜厚测量系统

C12562-04

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C12562 是一款紧凑、节省空间的非接触式薄膜膜厚测量系统,可根据需要轻松安装在设备中。在半导体行业,因为硅穿孔技术的流行,硅厚度的测量至关重要;在薄膜生产行业,粘合层薄膜越来越薄,以满足产品规格。因此,这些行业现在需要更高的厚度测量精度,测量范围从 1 μm 到 300 μm。C12562 允许在 500 nm 至 300 μm 的宽厚度范围内进行精确测量,包括薄膜涂层和薄膜基板厚度以及总厚度。C12562 还提供高达 100 Hz 的快速测量,是高速生产线测量的理想选择。

特点

  • 可测量从薄膜厚度到总厚度的整个范围
  • 缩短周期时间(最高 100 Hz)
  • 增强型外部触发器(适用于高速测量)
  • 软件中添加了简化的测量
  • 能够同时进行表面分析
  • 精确测量起伏不定的薄膜
  • 分析光学常数(n、k)
  • 提供外部控制

详细参数

型号 C12562-04
可测量的薄膜厚度范围(玻璃) 500 nm 至 300 μm*1
测量重现性(玻璃) 0.02 nm*2 *3
测量精度(玻璃) ±0.4%*3 *4
光源 卤素光源
光斑尺寸 约 φ1 mm*3
工作距离 10 mm*3
可测量层数 最多 10 层
分析 FFT 分析、拟合分析、光学常数分析
测量时间 3 ms/point*5
光纤连接器形状 FC
外部控制功能 RS-232C,以太网
电源 AC100 V 至 AC240 V,50 Hz/60 Hz
功耗 约 80 VA
*1 当以玻璃折射率 1.5 进行转换时。
*2 测量 1 μm 厚玻璃膜时的标准偏差(容差)。
*3 取决于使用的光学系统或物镜放大率。
*4 VLSI 标准测量保证文件中记录的测量保证范围。
*5 最短曝光时间。

尺寸

c12562 外形尺寸图

 

 

两分叉光导外形尺寸图

a10192-10 外形尺寸图

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