荧光量子效率测量系统

荧光/发光材料和设备参数的评估系统。

ODPL 测量系统使用积分球来测量全向光致发光光谱并确定样品的发射效率。

采用光致发光方法,用于发光材料的紧凑型单盒绝对量子产率光谱仪。不仅可以分析薄材料,还可以分析液体溶液和粉末。它可在短时间内快速测量绝对 PL 量子产率、激发波长依赖性和 PL。

采用光致发光方法,用于发光材料的紧凑型单盒绝对量子产率光谱仪。其他选项支持高灵敏度、近红外和上变频测量。

用于使用光致发光方法的发光材料的绝对量子产率光谱仪。不仅可以分析薄材料,还可以分析液体溶液和粉末。

使用积分球的高精度外量子效率测量系统。它实现了独立于目标发光角度特性的高精度测量。

相对于检测角测量发光装置的辉度、发射光谱和色度。

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