荧光寿命分析系统

高灵敏度、高时间分辨率的多光谱动态变化测量系统。

用途:发光材料评估

本页将介绍用于评估发光材料与系统特性的原理、方法、测量仪器及案例研究。

紧凑型单盒荧光寿命测量系统,可测量荧光寿命和光致发光光谱,操作简便,精度高。

高灵敏度和高时间分辨率 (800 fs) 荧光寿命测量系统,利用 2D 光子计数方法测量多光谱荧光寿命。

案例研究

为评估Center for Organic Photonics and Electronics Research (OPERA), Kyushu University 正在研发的有机光电材料和器件,需用到各种测量方法,如光致发光 (PL) 量子产率测量和荧光寿命测量。为进行此类评估,我们推出了Quantaurus系列与条纹相机。

我们采访了Prof. Chihaya Adachi, Director of the Center与 Assoc. Prof. Hajime Nakanotani,主题为绝对光致发光量子产率测量方法的确立、我们的Quantaurus系列对其研究的影响以及其对未来研究的展望。

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