膜厚测量系统

利用激光干涉法和光谱干涉法的非接触式高精度膜厚测量系统。

利用激光干涉法和光谱干涉法的非接触式高精度膜厚测量系统。

8 产品信息

null

Optical NanoGauge 膜厚测量系统: C15151-01

  • 超薄薄膜测量
  • 1 nm 至 20 μm
  • 高精度测量

高速测量晶圆、玻璃和薄膜的厚度。(测量范围:玻璃:1 nm 至 20 μm,硅:0.43 nm 至 8.6 μm)

联系人

null

Optical NanoGauge 膜厚测量系统: C12562-04

  • 高速超薄膜测量
  • 500 nm 至 300 μm
  • 1Box 单元内嵌式

Optical NanoGauge 利用光谱干涉法测量薄膜厚度。它可以测量 500 nm 至 300 μm 的玻璃。

联系人

null

Optical NanoGauge 膜厚测量系统: C13027-12

  • 支持高速 PLC 连接
  • 10 nm 至 100 µm
  • 1Box 单元内嵌式

Optical NanoGauge 利用光谱干涉法测量薄膜厚度。它不仅支持 PLC 连接,而且设计比其他型号更紧凑,便于安装到设备中。

联系人

null

Optical MicroGauge 膜厚测量系统: C11011-02

  • 高速测量
  • 25 µm 至 2.2 mm
  • 1 层

Optical MicroGauge 利用激光干涉法测量厚度。它可以测量 25 µm 至 2.2 mm 的玻璃,以及 10 µm 至 0.9 mm 的硅。

联系人

null

Optical MicroGauge 膜厚测量系统: C11011-02W

  • 高速测量
  • 25 µm 至 2.9 mm
  • 1 层

Optical MicroGauge 利用激光干涉法测量厚度。它可以测量 25 µm 至 2.9 mm 的玻璃,以及 10 µm 至 1.2 mm 的硅。

联系人

null

Optical MicroGauge 膜厚测量系统: C11011-22

  • 高速测量
  • 25 µm 至 2.2 mm
  • 10 层

Optical MicroGauge 利用激光干涉法测量厚度。它可以测量 25 µm 至 2.2 mm 的玻璃,以及 10 µm 至 0.9 mm 的硅。

联系人

null

Optical MicroGauge 膜厚测量系统: C11011-22W

  • 高速测量
  • 25 µm 至 2.9 mm
  • 10 层

Optical MicroGauge 利用激光干涉法测量厚度。它可以测量 25 µm 至 2.9 mm 的玻璃,以及 10 µm 至 1.2 mm 的硅。

联系人

null

Multipoint NanoGauge: C11295

  • 多点测量类型
  • 20 nm 至 100 µm

Multipoint NanoGauge 利用光谱干涉法同时测量多个点(最多 15 个点)的薄膜厚度。它可以测量 20 nm 至 100 µm 的玻璃。

联系人

抱歉,您的搜索未返回任何结果。
请使用不同的条件重试。

请联系我们获取更多信息。

  • 资料索取
  • 价格咨询
  • 产品货期
  • 产品定制
  • 演示
  • 技术支持
  • 其他

联系我们