半导体应用实验室 | 膜厚测量系统

什么是半导体应用实验室?

半导体应用实验室(位于静冈县滨松市常光工厂)是一个旨在与客户共同创造的实验室。我们的设备可解决半导体故障分析和晶圆测试等各种问题。

根据您的浏览器和设置,可能无法正常运行。

半导体应用实验室用例

半导体应用实验室不仅适用于使用滨松光子学产品的客户,也适用于考虑购买滨松光子学产品的群体。

该实验室为那些因考虑购买设备而试用设备的人、安装前想学习如何操作设备的人以及想学习如何以实用方式使用设备的人提供了设备使用场所。此外,半导体公司可于此相互交流,一起解决问题并提高半导体质量,亦可交换意见,共同探索新的分析技术。

可用产品

Optical MicroGauge膜厚测量系统C11011是一种利用激光干涉法的薄膜膜厚测量系统。可在60 Hz时进行高速测量,因此也可用于工厂内的线阵测量。

映射载物台 C8126 系列

这是一种与 Optical Gauge 系列型号结合使用时可测量晶圆和薄膜厚度分布的映射系统。它可用于确认食用和研磨特点面内均匀性及质量控制。

请联系我们获取更多信息。

  • 资料索取
  • 价格咨询
  • 产品货期
  • 产品定制
  • 演示
  • 技术支持
  • 其他

联系我们