Optical MicroGauge膜厚测量系统

C11011系列

Optical MicroGauge膜厚测量系统C11011是一种利用激光干涉法的薄膜膜厚测量系统。可在60 Hz时进行高速测量,因此也可用于工厂内的线阵测量。与可选的映射系统结合使用,以便进行原型厚度分布测量。它可用于从监控制造过程到质量控制的各种用途。

特点

  • 非透明(白色)样品的红外光测量
  • 60 Hz高速测量
  • 测量带有图案或保护膜的晶圆
  • 长工作距离
  • 映射功能(可选)
  • 提供外部控制

详细参数

型号

C11011-02

C11011-02W

C11011-22

C11011-22W

可测量的薄膜厚度范围(玻璃)*1 25 μm至2.2 mm 25 μm至2.9 mm 25 μm至2.2 mm 25 μm至2.9 mm
可测量的薄膜厚度范围(硅)*2 10 μm至0.9 mm 10 μm至1.2 mm 10 μm至0.9 mm 10 μm至1.2 mm
测量重现性(玻璃)*3 250 nm 250 nm 250 nm 250 nm
测量重现性(硅)*4 100 nm 100 nm 100 nm 100 nm
测量精度(硅)*5 ±0.5 μm(≦500 μm), ±0.1 %(>500 μm) ±0.5 μm(≦500 μm), ±0.1 %(>500 μm) ±0.5 μm(≦500 μm), ±0.1 %(>500 μm) ±0.5 μm(≦500 μm), ±0.1 %(>500 μm)
光源 红外LD (1300 nm) 红外LD (1300 nm) 红外LD (1300 nm) 红外LD (1300 nm)
光斑尺寸 约Φ60 μm 约Φ60 μm 约Φ60 μm 约Φ60 μm
工作距离 *6 155 mm 155 mm 155 mm 155 mm
可测量层数 最多1层 最多1层 最多10层 最多10层
分析 峰值检测 峰值检测 峰值检测 峰值检测
测量时间 16.7 ms/point 22.2 ms/point 16.7 ms/point 22.2 ms/point
外部控制功能 RS-232C,PIPE RS-232C,PIPE RS-232C,以太网 RS-232C,以太网
接口 USB 2.0(主机 - 计算机) USB 2.0(主机 - 计算机) USB 2.0(主机 - 计算机) USB 2.0(主机 - 计算机)
电源 AC100 V至AC240 V,50 Hz/60 Hz AC100 V至AC240 V,50 Hz/60 Hz AC100 V至AC240 V,50 Hz/60 Hz AC100 V至AC240 V,50 Hz/60 Hz
功耗 约50 VA 约50 VA 约 50 VA 约 50 VA
光纤连接器形状 FC FC FC FC

*1:当以玻璃折射率1.5进行转换时。
*2:当以硅折射率3.67进行转换时。
*3:测量玻璃膜时的标准偏差(容差)。
*4:测量硅时的标准偏差(容差)。

*5:测量硅时。

*6:提供工作距离为1000 mm的可选型号。

尺寸

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