滨松光子学株式会社新开发了离子化辅助基板,可大幅缩短成像质谱分析中的预处理时间。

2018年05月10日

LD 堆叠

离子化辅助基板 DIUTHAME 系列

滨松光子学株式会社新开发了称为 DIUTHAME 系列的离子化辅助基板。DIUTHAME 是使用通孔氧化铝膜进行解吸离子化的首字母缩写,利用多孔氧化铝大大缩短了通过成像质谱分析的样品或分析物离子化所需的预处理时间。要完成质谱分析的样品预处理,只需将 DIUTHAME 基板放在样品上即可。这将预处理时间缩短至基质辅助激光解吸/离子化或 MALDI 的约十分之一,MALDI 是一种用于质谱分析的主流离子化技术。DIUTHAME 还可用于现有 MALDI-TOF-MS 的测量。DIUTHAME 样品将从 2018 年 5 月 11 日(周五)开始提供,主要面向日本和海外公司和大学的研究人员,他们目前正在药物发现和工业领域使用 MALDI-TOF-MS。

DIUTHAME 是在新光子学产业创建研究生院(日本滨松)Yasuhide Naito 副教授的帮助下共同开发的。DIUTHAME 将在 2018 年 ASMS(美国质谱学会)会议上展出,会议将于 6 月 3 日(周日)至 6 月 7 日(周四)在圣地亚哥会议中心(美国加州)举行,为期 5 天。

※多孔氧化铝:具有均匀排列的细通孔氧化铝。

※TOF-MS:飞行时间质谱仪,用于根据离子在给定距离内行进所花费的时间测量质量。