滨松光子学株式会社开发了一种 GaN 晶体评估系统,该系统使用 ODPL 光谱法对 GaN 晶体质量进行定量评估。
产品从 2021 年 8 月 2 日起售。

2021年07月06日

ODPL 测量系统 C15993-01

ODPL 测量系统 C15993-01

滨松光子学株式会社开发了 GaN(氮化镓)晶体评估系统“ODPL(全向光致发光)测量系统 C15993-01”,该系统利用 ODPL 光谱以及我们独特的光探测技术,包括光学设计和数据处理。该 ODPL 测量系统定量评估 GaN 晶体的质量,这些晶体目前作为下一代功率半导体的材料受到广泛关注。这一新系统将证明是提高研发效率的强大工具,以发现提高晶体质量的新方法。

该新型 ODPL 测量系统于 2021 年 8 月 2 日星期一开始向日本和海外大学和半导体基板制造商的研究人员销售。系统将在“SEMI 合作伙伴搜索 - 功率和化合物”在线活动上展示,该活动计划于 2021 年 7 月 14 日星期三举行。