硅微条探测器

S13804

适用于高能粒子位置检测的单面 SSD

 

硅微条探测器 (SSD) 是一种硅光电二极管,其 PN 结(粒子检测结构)的宽度为数微米至数十微米,以条状形式排列。它是一种专为 J-PARC muon g-2/EDM 实验* 开发的 SSD,能够高精度检测高能粒子的入射位置。其感光面约为 97 × 97 mm,可检测较宽区域的位置。

http://g-2.kek.jp/portal/index.html


特点
- 高电压容差
- 高辐射耐受性
- 低暗电流

类型 多晶硅偏压交流读出
硅厚度 320 ±15 μm
硅晶体平面方向 <100>
击穿电压最小值 200 V
暗电流最大值 3 μA
满耗电压最大值 100 V
微条缺陷率最大值 5%

外形尺寸图(单位:mm)

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