滨松光子学株式会社开发了一种系统,能够 100% 快速检查下一代显示器的微型 LED,以检测其外表、发光强度和波长是否有异常。
该检查系统将于 2021 年 3 月 8 日起售。

2021年03月02日

MiNYTM PL 微 LED PL 检查系统 C15740-01

MiNYTM PL 微 LED PL 检查系统 C15740-01

滨松光子学株式会社开发了一款系统,用于对晶片上的微 LED 进行高速检测,以检测其外表、发光强度和波长是否有异常。该检查系统采用基于我们先进图像处理技术的光致发光 (PL) 测量技术*,以及采用我们独特光学设计技术的新开发成像模块。我们称之为微型 LED PL 检查系统 ‘MiNYTM PL’,类型编号为 C15740-01。

MiNYTM PL 在检查微型 LED 时可快速做出通过/未通过决定,这将有助于提高显示器用途的产品产量,并有助于提高微型 LED 的研发效率。此外,MiNYTM PL 还将简化未来大规模生产线中微型 LED 的 100% 检查过程。MiNYTM PL 将于 2021 年 3 月 8 日星期一开始向国内外市场的 LED 和显示器制造商销售。

*PL 测量技术是一种通过以非接触和非侵入性方式捕获和分析光激发光致发光图像来评估 LED 和其他设备特性的通用方法。