X 射线平板传感器

我们知道 X 射线成像装置包括 X 射线图像增强器、CCD 和 a-Si(非晶硅)等。这些设备与平板传感器有何不同?

X 射线图像增强器具有出色的灵敏度,但它们存在图像失真,需要在图像测量中校正。对于 CCD,制造具有较大有效面积的设备非常困难。这对于大面积的 X 射线成像来说是一个缺点,因为与可见光不同,光学透镜不能用于聚焦 X 射线。而 a-Si 设备能够以大尺寸制造,但具有极长的衰减时间,这可能导致高速工作期间的图像延迟问题。为了解决这一切问题,平板传感器应运而生。通过结合 CMOS 技术,从而可以制造出尺寸在 a-Si 和 CCD 设备之间、同时又没有图像延迟问题的设备。下表比较了这些设备的规格。

X 射线成像设备 灵敏度 分辨率 影像尺寸 动态范围 性价比 变形 备注
X 射线图像增强器 非常窄 良好 相机尺寸大
CCD 良好 难以生产大面积设备
a-Si 非常大 - 衰减时间长且价格高
平板传感器 良好 良好 -

平板传感器的孔径比为多大?

我们的标准工艺在 100 × 100 μm 像素尺寸上实现了 87% 的高孔径比。

在外部帧速率操作期间,初始图像非常明亮。为什么会这样?

这是因为在软件提供外部触发器之前,平板传感器会积累电荷。因此,在测量期间需要排除第一帧。

操作平板传感器时需要哪些外围设备?

尽管具体取决于平板传感器的类型,但通常需要准备帧抓取板或网络接口卡、信号电缆、电源和 PC 等。有关详细信息,请参阅数据单。

平板传感器建议使用哪种电源?

我们建议使用配备电源变压器的单调增加型串联电源。如果使用会产生高波纹噪声的开关电源,则采集的图像上可能会出现水平线噪声。与 DC/DC 转换器和 LDO 结合使用时,开关电源还可能会降低图像质量。使用在所用系统要求的允许范围内的低波纹噪声串联电源。

是否有可用于驱动平板传感器的软件?

如果使用 RS422/LVDS 型平板传感器,则可以使用 National Instruments 的 Measurement & Automation Explorer (MAX) 和 NI IMAQ PCI-1424 抓取卡来评估基本功能。

平板传感器是否随附软件?

平板传感器不随附软件。客户必须根据具体用途创建软件。 

平板传感器允许的 X 射线能量和总曝光量的最大值是多少?

规格因具体类型而异,请参阅数据单了解详细信息。

如何延长平板传感器的使用寿命?

除在图像捕获期间外,请将 X 射线剂量设置为可检测范围内的一个较低值或关闭 X 射线,以便平板传感器不会暴露于辐射。另一种有效的方法是使用脉冲 X 射线源。此外还建议根据环境温度和传感器温度的波动,定期采集暗图像和阴影图像进行图像校正。

使用寿命测试条件使用什么标准?

我们在使用寿命测试中使用以下标准来确定寿命终点。
*灵敏度增幅大于最大输出的 12.5% (8192 LSB)
*灵敏度为初始值的 50% 或更低。
*线缺陷数量是规格值的两倍或更多。

贵公司是否向客户出借演示设备?

我们有一个演示室可供客户使用。我们还将用客户发送给我们的样品采集 X 射线图像。演示设备也可借给客户。请联系我们的销售办事处。