Sequencer 软件 | 失效分析系统

半导体应用实验室是一个旨在与客户共同创造的协作空间。 其提供了实际设备的操作演示,包括由我们的专家工程师进行的现场演示和购买前样品测试。​

Sequencer 软件

揭示晶圆级故障趋势

Sequencer 软件可实现晶圆级自动失效分析。虽然在手动 EFA 中芯片间比较存在局限性,但使用我们的 Sequencer 软件进行自动芯片间分析,可以清晰揭示晶圆级故障趋势。

吞吐量提升

数据采集通常非常耗时,即使对数量不多的点位进行成像,也需要数小时。我们的自动化系统搭载 Sequencer 软件,采用纯微距镜头工作流程,可在 24 小时内处理多达 720 个点位——其吞吐量相当于 9 套传统系统。

自动芯片间分析

1. 使用微距镜头自动执行芯片间分析。

2. 异常值提取,并自动放大以进行更深入的分析。

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半导体应用实验室

半导体应用实验室(位于静冈县滨松市常光工厂)是一个旨在与客户共同创造的实验室。我们的设备可解决半导体故障分析和晶圆测试等各种问题。 

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